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YG-WTG型硅片測厚儀

該款硅片測厚儀采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

一、概述

該款硅片測厚儀采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

二、產品特點

1、嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標定制。

2、測試過程中測量頭自動升降,有效避免了人為因素造成的系統誤差。

3、支持自動和手動兩種測量模式,方便用戶自由選擇。

4、系統自動進樣,進樣步距、測量點數和進樣速度等相關參數均可由用戶自行設定。

5、實時顯示測量結果的最大值、最小值、平均值以及標準偏差等分析數據,方便用戶進行判斷。

6、配置標準量塊用于系統標定,保證測試的精度和數據一致性。

7、系統支持數據實時顯示、自動統計、打印等許多實用功能,方便快捷地獲取測試結果。

8、系統由微電腦控制,搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板,方便用戶進行試驗操作和數據查看。

9、標準的RS232接口,便于系統與電腦的外部連接和數據傳輸。

10、支持Lystem™實驗室數據共享系統,統一管理試驗結果和試驗報告。

三、技術指標

指標 參數
測試范圍 0~2 mm(常規)
0~6 mm;12 mm(可選)
分辨率 0.1 μm
測量速度 10 次/min(可調)
測試壓力 17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(紙張)
接觸面積 50 mm2(薄膜);200 mm2(紙張) 注:薄膜、紙張任選一種;非標可定制
進樣步距 0~1000 mm
進樣速度 0.1~99.9 mm/s
電源 AC 220V 50Hz
外形尺寸 461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)
凈重 32 kg